請選擇版本:  
産品搜索:
 
  無機分析
有機分析
材料分析
分子光譜分析
表面分析(電子光譜)
樣品前處理
物理測試設備
無鹵分析
螢光X-Ray分析
化學耗氧(COD)分析
氫氣純化暨儲藏裝置
在線(on-line)分析系統
實驗室規劃設計施工
LIMS實驗室資料整合系統
ELGA純水機系統
顧問代檢諮詢服務
 
     表面分析(電子光譜) > PHI >
PHI Quantera Scanning X-ray Microrobe

 

PHI Quantera Scanning X-ray Microrobe

特點說明:
    X-ray光電子能譜儀(XPS/ESCA)在不同的工業及研究領域中,是在表面分析技術上最為廣泛的使用。XPS可從表面分析中,提供元素定量及化學狀態的資訊。 PHI Quantera針對工業使用之大用量設計,主真空腔可多達三個樣品台,及全自動分析設定,使操作更為簡易上手。
● Scanning X-ray Microprobe 之設計 :
     類似於SEM之功能及操作的便利性
     解析度高達9 μm
● 專利的雙射線束電性中和 :
     分析不導電樣品時,不需做特別的前置樣品準備
     自動分析多樣性之絕緣體樣品
● 高效率全自動分析 :
      縮短細微分析工作之時間
      增加高效能處理量
  五軸式電腦控制樣品平台

產業應用﹕材料,能源產業,電子,半導體產業


 
[关闭]
 
東莞公司
廣東省東莞市厚街鎮體育路發展大廈309室
電話: +86-769-85755380, +86-769-85755381
傳真: +86-769-85755376
昆山辦事處
江蘇省昆山市柏盧南路1250号雍景灣西苑6棟208室
電話: +86-512-57393383
傳真: +86-512-57393385
台灣公司
台北市110基隆路一段159号16樓
電話:+886-2-2746-7620
傳真:+886-2-2766-5176
 
Copyright @ 2008 A&B, Inc. All rights reserved.    粤ICP备08131241号