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     表面分析(電子光譜) > PHI >
PHI ADEPT-1010

 

PHI ADEPT-1010

特點說明:
● PHI D-SIMS為自動化的深度分析工具,主要是使用超低能量之離子射束來剝蝕樣品。
● 電性中和系統使絕緣體分析更為簡單
● 自動樣品量測高度校正
● 新穎的SIMetric軟體儀器控制及數據簡化軟體
● 軸式電腦控制樣品平台

產業應用﹕材料,能源產業,電子,半導體產業


 
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